Probing vacancy behavior across complex oxide heterointerfaces

Zhu, Jiaxin; Lee, Jung-Woo; Lee, Hyungwoo; Xie, Lin; Pan, Xiaoqing; De Souza, Roger; Eom, Chang-Beom; Nonnenmann, Stephen S. (Corresponding author)

Washington, DC [u.a.] : American Association for the Advancement of Science (2019)
Fachzeitschriftenartikel

In: Science advances
Band: 5
Heft: 2
Seite(n)/Artikel-Nr.: eaau8467